中圖儀器NS200臺(tái)階儀表面形貌測(cè)量?jī)x是一款超精密接觸式微觀輪廓測(cè)量?jī)x,，其采用LVDC電容傳感器，具有的亞埃級(jí)分辨率和超微測(cè)力,。它可以對(duì)微米和納米結(jié)構(gòu)進(jìn)行膜厚和薄膜高度,、表面形貌、表面波紋和表面粗糙度等的測(cè)量,。

工作原理

當(dāng)觸針沿被測(cè)表面輕輕滑過時(shí),，由于表面有微小的峰谷使觸針在滑行的同時(shí)還沿峰谷作上下運(yùn)動(dòng)。觸針的運(yùn)動(dòng)情況就反映了表面輪廓的情況,。

產(chǎn)品功能

1.參數(shù)測(cè)量功能

1）臺(tái)階高度：能夠測(cè)量納米到330μm甚至1000μm的臺(tái)階高度,，可以準(zhǔn)確測(cè)量蝕刻、濺射,、SIMS,、沉積、旋涂,、CMP等工藝期間沉積或去除的材料,；

2）粗糙度與波紋度：能夠測(cè)量樣品的粗糙度和波紋度，分析軟件通過計(jì)算掃描出的微觀輪廓曲線,，可獲取粗糙度與波紋度相關(guān)的Ra,、RMS、Rv,、Rp,、Rz等20余項(xiàng)參數(shù)；

3）翹曲與形狀：能夠測(cè)量樣品表面的2D形狀或翹曲,，如在半導(dǎo)體晶圓制造過程中,，因多層沉積層結(jié)構(gòu)中層間不匹配所產(chǎn)生的翹曲或形狀變化，或者類似透鏡在內(nèi)的結(jié)構(gòu)高度和曲率半徑,。

2.數(shù)采與分析系統(tǒng)

1）自定義測(cè)量模式：支持用戶以自定義輸入坐標(biāo)位置或相對(duì)位移量的方式來(lái)設(shè)定掃描路徑的測(cè)量模式,；

2）導(dǎo)航圖智能測(cè)量模式：支持用戶結(jié)合導(dǎo)航圖,、標(biāo)定數(shù)據(jù)、即時(shí)圖像以智能化生成移動(dòng)命令方式來(lái)實(shí)現(xiàn)掃描的測(cè)量模式,。

3）SPC統(tǒng)計(jì)分析：支持對(duì)不同種類被測(cè)件進(jìn)行多種指標(biāo)參數(shù)的分析,，針對(duì)批量樣品的測(cè)量數(shù)據(jù)提供SPC圖表以統(tǒng)計(jì)數(shù)據(jù)的變化趨勢(shì)。

3.光學(xué)導(dǎo)航功能

配備了500W像素的彩色相機(jī),，可實(shí)時(shí)將探針掃描軌跡的形貌圖像傳輸?shù)杰浖酗@示,，進(jìn)行即時(shí)的高精度定位測(cè)量。

4.樣品空間姿態(tài)調(diào)節(jié)功能

配備了精密XY位移臺(tái),、360°電動(dòng)旋轉(zhuǎn)平臺(tái)和電動(dòng)升降Z軸,，可對(duì)樣品的XYZ、角度等空間姿態(tài)進(jìn)行調(diào)節(jié),，提高測(cè)量精度及效率,。

NS200臺(tái)階儀表面形貌測(cè)量?jī)x對(duì)測(cè)量工件的表面反光特性、材料種類,、材料硬度都沒有特別要求,，樣品適應(yīng)面廣，數(shù)據(jù)復(fù)現(xiàn)性高,、測(cè)量穩(wěn)定,、便捷、高效,，是微觀表面測(cè)量中使用非常廣泛的微納樣品測(cè)量手段,。

典型應(yīng)用

部分技術(shù)參數(shù)

使用環(huán)境

相對(duì)濕度：濕度 （無(wú)凝結(jié)）30-40% RH

溫度：16-25℃ (每小時(shí)溫度變化小于2℃)

地面振動(dòng)：6.35μm/s（1-100Hz）

音頻噪音：≤80dB

空氣層流：≤0.508 m/s（向下流動(dòng)）

如有疑問或需要更多詳細(xì)信息,，請(qǐng)隨時(shí)聯(lián)系中圖儀器咨詢,。